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标题: 线性响应方法计算的U值如何证明其可靠性 [打印本页]

作者
Author: 5：00am 时间: 2022-5-16 21:17
标题: 线性响应方法计算的U值如何证明其可靠性
请问各位老师，体系是AlCrMeO 四元掺杂体系，因为做的人比较少，＋U计算没有找到可以参照的U值，没有找到相似体系可以参考的U值，所以我用线性响应方法的方法计算了Ueff，现在审稿人问我怎么证明计算得到的U值的可靠性，实在搞不清这我该怎么证明

，请问有什么可以参照的文献吗。

作者
Author: 卡开发发 时间: 2022-5-16 22:28
VASP中采用的线性响应计算DFT+U采用的框架是文献10.1103/PhysRevB.71.035105线性响应法估计Hubbard U参量的依据是让体系的KS方程的本征值在修正后能够尽可能消除电子自作用而符合广义Koopmans定理，即文献中的公式12和图1，利用微扰论可以导出公式13、14以及局域占据态和体系能量的关心，进而导出U的近似公式，也就是说这些公式的由来都是有一定的依据。

但是可能存在的问题是：
1、U值是依赖化学环境的，因此简单使用固定的值原理上很难说对涉及到化学反应方面的问题有所改善。
2、局域投影态和DFT重复计入的交换关联能量的扣除存在方法的差异。
3、Hubbard U只能抓住一部分单中心位点关联的图像，但并不是所有体系都是这种因素主导。
正因为这些点，有些审稿人经常会抓住这种问题穷追猛打，甚至一些问题他们自己也没整清楚。

作为讨论来说，我应该说到这。

作者
Author: 5：00am 时间: 2022-5-17 10:00

卡开发发发表于 2022-5-16 22:28
VASP中采用的线性响应计算DFT+U采用的框架是文献10.1103/PhysRevB.71.035105线性响应法估计Hubbard U参量的 ...

感谢老师的细心回复！

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