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标题: 如何实验测得fundamental gap？ [打印本页]
作者
Author: slope    时间: 2023-5-12 18:29
标题: 如何实验测得fundamental gap？
本帖最后由 slope 于 2023-5-12 18:31 编辑

各位老师好，在阅读了sob老师撰写的博文 “正确地认识分子的能隙(gap)、HOMO和LUMO” （http://sobereva.com/543）后，认识到fundamental gap是可以实验测定的：气相VIP可以通过光电子谱得到，气相VEA可以通过电子附着光谱得到。我想请问下，这些测试在哪个平台和网站可以进行呢？真的非常感谢，我最近在网上都没怎么查到相关测试。
我现在有个样品（粉末状：苯甲酸钠，苯甲酸），通过理论计算算得它们的fundamental gap后，实验该如何进行对比呢？去测试这些样品的“气相紫外光电子能谱和电子附着能谱”吗？
在网上看到紫外光电子能谱需要500元（见附件），而关于电子附着谱的相关测试却没查到。

我想请问下气相紫外光电子能谱这两个测试都是这个价位吗？电子附着能谱在哪个平台测试比较好呢？如果有相关测试链接的话能否推荐一下？我想测试一下这些材料的fundamental gap。

此外，我再chatgpt上查阅到可以通过XPS,TEM进行获得，不知道这个方法是否可靠，也想请各位老师把把关：

  1. 关于测量fundamental gap（基本带隙）：

  3. 基本带隙是指半导体或绝缘体中价带顶与导带底之间的能量差。实验上可以通过以下几种方法测量基本带隙：

  5. 光谱法：通过测量材料的吸收光谱、反射光谱或光致发光光谱，可以得到基本带隙。常用的仪器包括紫外-可见光谱仪（UV-Vis）、光电流测量设备、电流计等。

  7. 椭圆偏振光谱法：通过测量材料的椭圆偏振光谱，可以获取基本带隙。椭圆偏振光谱仪是实现该方法的主要仪器。

  9. X射线光电子能谱（XPS）：通过测量材料的X射线光电子能谱，可以获得有关电子结构的信息，从而推导出基本带隙。实验需要X射线光电子能谱仪。

  11. 透射电子显微镜（TEM）：通过观察电子束透过材料的透射电子显微镜图像，可以获取材料的能量损失谱，从而推导出基本带隙。需要的仪器为透射电子显微镜。

  13. 需要注意的是，不同方法的适用范围和精度可能有所不同，具体选择哪种方法需要根据实际需求和材料性质来确定。在实际应用中，可以结合多种方法来更准确地确定基本带隙。
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作者
Author: swordshine    时间: 2023-5-13 11:16
E_fund = IP-EA，UPS测IP，IPES测EA，相减即可，测试较贵。其他方法都有误差（光学能隙有激子结合能的影响；电化学方法存在多重近似，差别更大），虽然很便宜。
可以参考Bredas, J.-L., Mind the gap! Mater. Horiz. 2014, 1 (1), 17-19.
然后，别问chatgpt了，那货就是在瞎编



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