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标题: MS通过计算的到的XRD与实验数据比对的问题 [打印本页]

作者
Author: 析万物之理 时间: 2024-12-8 20:37
标题: MS通过计算的到的XRD与实验数据比对的问题
各位老师，大家好。
我有一个问题想请教一下大家，情况如下
我们从实验得到了XRD图，目前想通过已有的cif文件（实验得到的），通过Materials studio进行层间距的扩大或者减小，来获得理论上的power diffraction图表，进行实验数据的匹配，并且从理论模型上查看原子结构等信息。

问题是我们修改层间距（晶胞内包含双层结构，上层结构上移，下移，左移或者右移），发现power diffraction中出峰的位置（x坐标角度）是不变的，出峰的强度会随着距离而改变。实验人员告诉我们，这样做（上层移动），出峰的位置应该是会发生变化的（x坐标角度）。所以想请问一下各位老师，移动上层结构，出峰位置没有发生变化，出峰强度发生变化，这种情况合理吗？有什么好的方法能够进行理论和实验上面的XRD数据的匹配吗？
本人是小白，如果有术语等方面的错误之类的，请大家见谅。感谢大家！

作者
Author: 令99 时间: 2025-12-17 14:26
请问cif文件是如何通过实验得到的，谢谢

作者
Author: SharkYYX2025 时间: 2025-12-17 15:36

令99 发表于 2025-12-17 14:26
请问cif文件是如何通过实验得到的，谢谢

我不知道楼主怎么得到的，我经验是，通常用单晶XRD衍射可以得到。先培养出单晶（不是普通那种粉末晶体），不能太小，然后送出去测试单晶XRD解出晶体结构。
一般结构大概几百的价位能做出结果，你提供单晶，机构帮你测试和分析，给你解出cif

作者
Author: 令99 时间: 2025-12-17 20:00

SharkYYX2025 发表于 2025-12-17 15:36
我不知道楼主怎么得到的，我经验是，通常用单晶XRD衍射可以得到。先培养出单晶（不是普通那种粉末晶体） ...

好的谢谢，我现在是要通过raw文件来处理掺杂类的

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