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标题: 求助利用CP2K结合Multiwfn求在核的有效电子密度差 [打印本页]

作者
Author:
tanzicong    时间: 2025-10-16 14:17
标题: 求助利用CP2K结合Multiwfn求在核的有效电子密度差
第一次发帖,如果不规范之处,烦请指出,一定会按照论坛须知修改
之前一直在做表面吸附和催化的DFT理论计算,最近在大老板的要求下转去做重同位素理分馏的论计算。在阅读参考资料时(见图1),第一次遇到“有效电子密度差”的概念。
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(图1)
(a)有效电子密度,相对好理解,我简单认为是最内层的轨道上电子密度(不一定对)
(b)但是“接触电子密度”,它指的是原子核上的电子密度,根据ppt的定义,我的计算思路如下:
       (1)利用CP2K完成结构优化和SCF计算,并生成对应的.molden文件
         (2)利用Multiwfn读取.molden,并通过功能“1 Output all properties at a point ”--输入“a1”读取a1原子核的位置。
        问题1:输出中 “Density of all electrons:  0.5081609398E-04”可否认为时该点的在核有效电子密度?
        如果不能,则有问题2:当程序输出了a1原子核位置的时候,应当通过哪些数据计算出该点的电子密度?

感谢各位同行解答



作者
Author:
sobereva    时间: 2025-10-17 03:36
你在Multiwfn里的操作没问题,但不能用赝势基组,要不然原子核位置的密度近乎为0,没法对比。必须用GAPW结合全电子基组计算

我之间并未听说过这两个概念,我认为远不如用原子电荷求差有意义。参考下文的综述

一篇深入浅出、完整全面介绍原子电荷的综述文章已发表!
http://sobereva.com/714http://bbs.keinsci.com/thread-46067-1-1.html






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