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标题: AIM分析键径非常多如何处理 [打印本页]

作者
Author: 微塑料 时间: 2026-3-21 17:25
标题: AIM分析键径非常多如何处理
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如图所示，在VMD中，构型的键径非常多，如果逐一读取BCP点然后再翻阅CPprop.txt文件，则非常容易出错，并且也很麻烦。
各位老师，有没有什么办法只让两个分子间的临界点展示出来，并且能够迅速得知两个分子间每个极值点的index值，更方便查阅和标记。

作者
Author: sobereva 时间: 2026-3-21 21:48
提问时必须先说清楚前提，你这是按下文的方式基于Multiwfn分析结果画的图
使用Multiwfn+VMD快速地绘制高质量AIM拓扑分析图（含视频演示）
http://sobereva.com/445（http://bbs.keinsci.com/thread-11079-1-1.html）
最重点是Multiwfn的拓扑分析过程，而根本不是VMD作图

Multiwfn手册4.2.6节明确说了怎么只在两个分子间做BCP的搜索并产生键径，这么搜索完之后再让Multiwfn导出文件、用VMD作图就完了

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