关于B掺杂的Si/SiO2界面体系中含B局域结构稳定性评价问题

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发布时间: 2021-1-7 22:25

本帖最后由 nusiew 于 2021-1-7 22:25 编辑如图所示是B掺杂的Si/SiO2界面体系，整个体系是网络体结构，B从Si中向SiO2中迁移，现在主要想研究B在这个体系中各个稳定和亚稳结构的稳定性。我想要请教的问题是：对于 ...

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nusiew 发表于 Post on 2021-1-8 14:41:06

非常感谢老师的指导！

sobereva 发表于 Post on 2021-1-8 00:24:37

还是用一般的讨论方式，考察B在各个位置的自由能高低判断热力学稳定性，通过迁移势垒判断动力学稳定性。

只要你已经有了合适的初始结构，用Gaussian作为簇模型或者用ONIOM是可以算的，算的时候把边界冻住。没有初始结构的话，可以考虑用CP2K之类的程序优化一个

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