limen 发表于 2023-10-30 06:44 语义不明。说清楚具体输入了什么命令 如果是让Multiwfn以考虑k点的方式绘制DOS,结果依赖于k点数,gap会随着k点数的不断增加而收敛。当价带顶、导带底就在能带计算的k点路径上的情况,这种方式获得gap远没有让Multiwfn在绘制能带图时输出gap准确。 |
sobereva 发表于 2023-10-30 01:41 感谢社长指点 |
老师,展宽设为0.05时就能看到有为0的地方了 |
本帖最后由 limen 于 2023-10-30 07:22 编辑 sobereva 发表于 2023-10-30 01:44 老师,根据第二届cp2k培训内容绘制的,Multiwfn读取输出文件,导出绘图数路,Multiwfn显示带隙0.31eV |
sobereva 发表于 2023-10-30 01:44 老师,我是根据第二届CP2K培训班关于DOS图绘制那一节的步骤绘制的,导出所有k点数据,用Multiwfn导出绘图数据,展宽0.35eV,Multiwfn显示带隙0.31eV. |
limen 发表于 2023-10-29 20:13 光从这图本身来看根本没带隙,曲线又没有戳到0的位置 完整说清楚DOS图具体怎么得到的、带隙从哪读的 |
123wo 发表于 2023-10-27 14:55 这取决于态密度怎么算的 如果态密度是基于均匀分布的k点算的,当k点无穷多,带隙就是严格精确的(前提是没做展宽、不以展宽后的曲线来判断) 如果价带顶、导带底不恰处于计算能带的k点扫描路径上,反倒基于能带判断的带隙是不合理的(不是指此例) |
123wo 发表于 2023-10-27 14:55 老师,能带计算时生成高对称点只能用cif结构文件吗 |
sobereva 发表于 2023-10-27 08:13 老师,vG是空缺了一个碳原子的石墨烯 |
计算带隙还是通过计算能带结构比较好吧,态密度的计算出来带隙不太让人信任 |
当前计算毫无意义,盒子这么小,体系又是导体,居然还不考虑k点 vG指什么主动说清楚 |
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