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[CP2K] 求助计算NiO体系时DFT+U方法的选择

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本帖最后由 路过的假面骑士 于 2026-8-10 11:26 编辑

各位老师好!
我在测试NiO体系计算DFT+U的取值时,发现用Mulliken方法计算一个4*4*4的NiO超胞,当U值取1.5时,DFT+U的贡献为正值,但在该取值下计算得到的带隙只有2.0435eV,与文献值相差较大;当U取值增大到2.0后,DFT+U的贡献开始为负,最后增大到5.7,计算得到的带隙为3.5895eV,与文献值较为接近,但DFT+U贡献的负值达到-13.2116 Ha,且DFT+U occupations最大值大于1.1,这样是否应该不能认为是轻微超过上限一丁点?如果改用Löwdin方法,即使U值取到5.7,DFT+U的贡献依然为正,DFT+U occupations在每个
shell均小于1,但带隙小于Mulliken方法,只有2.958ev。请问在这种情况下,Mulliken方法是否还适用?后续如果要切NiO的slab跑AIMD,应该用Mulliken还是Löwdin更为合适?计算结果文件打包附后,望各位老师不吝赐教,非常感谢。



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