求助——关于vasp计算二维半导体异质结载流子迁移率过程中的数据拟合问题

阿尔托莉雅~

各位老师，学生在使用vasp计算二维异质结载流子迁移率时遇到一些问题，想请教各位。（组内是做实验的，目前在学习计算，可能会有一些傻瓜问题，请您谅解
。）

1.在计算载流子有效质量时，对于导带底与或者带顶极值点两侧的数据进行拟合，但结果相差很多（如图1），这种情况应该如何处理。是要分别计算，还是通过合理方法取中间值。

2.在对带边位置进行拟合计算deformation potential时，拟合得到的直线斜率的正负与什么有关？出现数据明显无法使用一条直线拟合的情况，可能是什么原因导致的呢？（例如图2中价带可以拟合，但导带无法拟合的情况。）

阿尔托莉雅~

大佬们救救