计算的两个底物氧化反应自由能变趋势与实验氧化电位相反，可能是什么原因？

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各位老师好，最近在计算两个底物（还原剂A和还原剂B）与同一氧化剂发生氧化还原反应的能量差异时，遇到了计算结果与实验趋势矛盾的问题，相关的输出文件放在附件help.zip中了，想请教一下可能的原因和解决办法。
1. 实验背景
实验上测得的两个还原剂的半波氧化电位E_p/2分别为：
A：1.27 V  B：1.39 V
B的氧化电位更高，意味着B更难被氧化，发生氧化反应时放出的能量应该更少。
2. 氧化电位的计算结果（与实验趋势一致）
我采用附图的热力学循环方法计算了A和B的气相绝热电离能+溶解自由能进而计算氧化电位：
气相自由能变：CBS-QB3
溶解自由能：M062X/def2TZVP（SMD隐式溶剂模型）
计算得到的氧化电位为：
A：1.54 V  B：1.76 V
计算值与实验值存在系统性偏差（约0.27-0.37 V），但趋势与实验一致（E_A < E_B）。
3. 势能面计算中的问题（趋势相反）
在后续的势能面计算中，我采用以下方案：
几何优化+振动分析：PBE0(GD3BJ)/def2SVP
单点能：M062X/def2TZVP (SMD隐式溶剂模型)
热力学校正：Shermo
计算氧化反应 A → A^(+·) + e^(-) 的反应自由能变 ΔG_rxn = G(产物) - G(反应物)（将A和B的基态能量归零后比较）。
问题：势能面计算的结果总是显示B氧化的放热比A更多（ΔG_B更负），与实验氧化电位趋势（B更难氧化）完全相反。我也尝试了不同的理论方法和基组结果总是相反。
4. 我的初步猜测
我怀疑问题出在溶剂化自由能的计算上。但在氧化电位计算中，同样的溶剂化方案得到的趋势是正确的，到了势能面计算中趋势却反转了，这让我感到困惑。而且这一步的电子转移只是是势能面上的第一步反应，后续还有很多步骤。
5. 想请教的问题
（1）氧化电位计算和势能面反应自由能计算本质上应该是等价的，为什么会出现趋势相反的情况？是否在某个环节存在概念性或方法学上的不一致？
（2）对于溶剂化自由能的计算误差，有没有什么推荐的改进方案？因为这只是计算过程中的第一步，后续很多中间体和过渡态已经优化完毕了，有没有不改变结构优化只在单点计算上修改的好办法？

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